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判断题
磁粉检测,所有的磁痕尺寸、数量和产生部位均应记录并图示。
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判断题
JB/T4730.4-2005标准规定:两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时,按一条磁痕处理,其长度为两条磁痕之和加间距。
判断题
JB/T4730.4-2005标准规定:当辩认细小缺陷磁痕时应用2~10倍放大镜进行观察。
判断题
荧光磁粉检测时,磁痕的评定应在暗室或暗处进行,暗室或暗处可见光照度应不小于20Lx。
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