欢迎来到计算机考试题库网
计算机题库官网
登录
注册
首页
计算机java工程师信产部认证考试
计算机网络设备调试员
计算机计算机软件水平考试
计算机通信工程师
计算机计算机辅助设计绘图员
全部科目
>
技术监督质检职业技能考试
>
无损检测技术资格人员考试
>
无损检测技术资格人员综合练习
搜题找答案
判断题
缺陷尺寸越小，声发射源的活度越弱。
【参考答案】
错误
点击查看答案
上一题
目录
下一题
相关考题
判断题
缺陷尺寸越大，声发射源的综合等级越严重。
判断题
声发射检测所发现的声发射源均应采用常规无损检测方法进行复验。
判断题
声发射源的结果评定，实际上就是对发现的缺陷如何进行处理。
关注
顶部
微信扫一扫,加关注免费搜题
