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全部科目 > 大学试题 > 工学 > 电子与通信技术 > 微电子器件与IC设计基础

多项选择题

长时间的热电子效应可能会对MOSFET的器件性能产生哪些影响?()

    A.阈值电压增大
    B.跨导增大
    C.亚阈区特性恶化
    D.漏源击穿电压增加

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