相关考题
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单项选择题
容易探测到的缺陷尺寸一般不小于（）。
A、波长的一半
B、1个波长
C、1/4波长
D、若干波长 -
单项选择题
锻件中缺陷的取向通常为（）。
A、杂乱
B、平行于晶粒流向
C、垂直于晶粒流向
D、与晶粒流向成45°角 -
单项选择题
在检验零件时，若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降，引起这种情况的原因（）。
A、可能是疏松
B、可能是大晶粒
C、可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良
D、上述三种都可能
