相关考题
-
单项选择题
位错密度通常采用（）来表示，可在金相显微镜下测定。
A.线密度
B.体密度
C.面密度
D.以上皆不是 -
单项选择题
三探针法属于利用半导体的（）来测量导电类型的方法。
A.整流效应
B.温差电效应
C.以上二种皆可
D.以上二种皆不可 -
单项选择题
目前国内外广泛采用（）测量半导体硅单晶电阻率。
A.四探针法
B.扩展电阻法
C.范德堡法
D.两探针法
