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多项选择题
半导体晶体缺陷中的宏观缺陷主要有（）
A.星型结构
B.杂质析出
C.系属结构
D.点缺陷 -
多项选择题
半导体硅的常用腐蚀剂主要有（）。
A.Dash腐蚀液
B.Shimmel腐蚀液
C.Sirtl腐蚀液
D.Wright腐蚀液 -
单项选择题
用冷热探笔法测量导电类型时，热探笔的温度要适当，以（）为宜。
A.30～50℃
B.40～60℃
C.50～70℃
D.60～80℃
