相关考题
-
多项选择题
半导体硅的常用腐蚀剂主要有()。
A.Dash腐蚀液
B.Shimmel腐蚀液
C.Sirtl腐蚀液
D.Wright腐蚀液 -
单项选择题
用冷热探笔法测量导电类型时,热探笔的温度要适当,以()为宜。
A.30~50℃
B.40~60℃
C.50~70℃
D.60~80℃ -
单项选择题
漩涡缺陷是晶体中()的局部聚集。
A.线缺陷
B.微缺陷
C.面缺陷
D.点缺陷
